松下太陽能電池模塊已獲確認不存在PID現象
來源：網絡來源 日期：2013-1-17 作者：全球電池網 點擊：
松下公司日前宣布，其生產的HIT太陽能光伏電池模塊已由德國弗勞恩霍夫硅光伏中心(Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics)確認不存在電位誘發衰減(potential induced degradation，PID)現象。
電位誘發衰減現象是指，在接地框架與太陽能光伏電池單元之間存在外加電壓的狀態下，再加上高溫高濕等外部因素，在這種情況下發生的輸出下降現象。2012年6月，弗勞恩霍夫硅光伏中心公布了13家公司太陽能光伏電池模塊相關測試結果，由此太陽能光伏電池行業加緊采取相應對策。不過，上述試驗并未包括松下的HIT太陽能光伏電池模塊。
松下認為，普通結晶硅型太陽能光伏電池產生電位誘發衰減現象的直接原因，是太陽能光伏電池單元表面的絕緣層帶電。而HIT太陽能光伏電池單元表面采用的是透明導電膜，不采用絕緣層。因此弗勞恩霍夫硅光伏中心此次利用正負兩種電壓進行了試驗。具體而言，是使用10塊HIT太陽能光伏電池模塊，在溫度為50℃、相對濕度為50%、正負電壓為1000伏的條件下。
【投稿聯系：周小姐 0571-81389937 采購電話：0571-88939068 采購QQ:
廣告QQ:
】
上一篇: 中國太陽能企業積極收購電池板技術
下一篇: 沒有了
版權聲明：全球電池網轉載作品均注明出處，本網未注明出處和轉載的，是出于傳遞更多信息之目的，并不意味 著贊同其觀點或證實其內容的真實性。如轉載作品侵犯作者署名權，或有其他諸如版權、肖像權、知識產權等方面的傷害，并非本網故意為之，在接到相關權利人通知后將立即加以更正。
>>相關文章
評論表單加載中...正在加載評論列表...
本文共有
條評論
>>